{"id":51700,"date":"2026-03-13T10:45:43","date_gmt":"2026-03-13T09:45:43","guid":{"rendered":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/?post_type=pubblicazione&p=51700"},"modified":"2026-03-30T08:32:21","modified_gmt":"2026-03-30T07:32:21","slug":"pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2","status":"publish","type":"pubblicazione","link":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/","title":{"rendered":"P14: S\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle en forte demande : IEC 62061 et architectures, Partie 2"},"content":{"rendered":"\n\n \n \n \n
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\n R\u00e9sum\u00e9 <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n
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Cet article fait partie d\u2019une s\u00e9rie d\u2019articles consacr\u00e9s \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle des machines. Nous avons r\u00e9cemment pr\u00e9sent\u00e9 l\u2019une des deux normes utilis\u00e9es pour concevoir des syst\u00e8mes de commande de s\u00e9curit\u00e9 en forte demande : ISO 13849-1. Nous pr\u00e9sentons maintenant les aspects cl\u00e9s de IEC 62061. Dans le num\u00e9ro pr\u00e9c\u00e9dent de TUTTOMISURE, nous avons pr\u00e9sent\u00e9 les architectures A et B ; nous allons maintenant d\u00e9tailler l\u2019architecture C<\/strong> : l\u2019\u00e9quivalent de la cat\u00e9gorie 2 de la norme ISO 13849-1, autrement dit un canal unique avec diagnostics.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

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\n Architecture de sous-syst\u00e8me de base C: 1oo1D <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n
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Dans cette architecture, \u00e0 canal unique avec diagnostic, toute d\u00e9faillance dangereuse non d\u00e9tect\u00e9e d\u2019un \u00e9l\u00e9ment du sous-syst\u00e8me entra\u00eene une d\u00e9faillance dangereuse de la fonction de s\u00e9curit\u00e9. Lorsqu\u2019une d\u00e9faillance d\u2019un \u00e9l\u00e9ment du sous-syst\u00e8me est d\u00e9tect\u00e9e, la fonction de diagnostic d\u00e9clenche une r\u00e9action au d\u00e9faut. Cette architecture correspond \u00e0 une tol\u00e9rance aux d\u00e9faillances mat\u00e9rielles de 0.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

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Cette architecture correspond \u00e0 la cat\u00e9gorie 2 de la norme ISO 13849-1 ; la figure 2 en donne une repr\u00e9sentation plus pr\u00e9cise.<\/p>\n

On peut remarquer que le TE (Test Equipment) de la cat\u00e9gorie 2 de la norme ISO 13849-1 est d\u00e9fini comme fonction de diagnostic des d\u00e9fauts<\/em> dans la norme IEC 62061. De m\u00eame, l\u2019\u00e9quivalent de l\u2019OTE est la fonction de r\u00e9action au d\u00e9faut<\/em>. L\u2019ensemble TE + OTE est d\u00e9fini comme la fonction de traitement des d\u00e9fauts<\/em> dans la norme IEC 62061.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

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\n Conditions pour une mise en \u0153uvre correcte de l\u2019architecture de sous-syst\u00e8me de base C <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n
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Pour l\u2019architecture C, le calcul du PFH suppose une gestion des d\u00e9fauts optimale dans le temps.
\nUne gestion des d\u00e9fauts optimale dans le temps pour un \u00e9l\u00e9ment du sous-syst\u00e8me peut \u00eatre suppos\u00e9e si l\u2019une des conditions suivantes est satisfaite:<\/p>\n

    \n
  • Le taux de diagnostic<\/strong> est au moins 100 fois sup\u00e9rieur<\/strong> au taux de demande de la fonction de s\u00e9curit\u00e9 et le temps n\u00e9cessaire pour la r\u00e9action au d\u00e9faut est suffisamment court pour amener le syst\u00e8me dans un \u00e9tat s\u00fbr<\/strong>, avant qu\u2019un \u00e9v\u00e9nement dangereux ne se produise ; ou<\/li>\n
  • La gestion des d\u00e9fauts est effectu\u00e9e imm\u00e9diatement lors de toute demande potentielle<\/strong> de la fonction de s\u00e9curit\u00e9, et le temps n\u00e9cessaire<\/strong> pour d\u00e9tecter un d\u00e9faut d\u00e9tectable et amener le syst\u00e8me dans un \u00e9tat s\u00fbr est inf\u00e9rieur au temps de s\u00e9curit\u00e9 du proc\u00e9d\u00e9 ; ou<\/li>\n
  • La gestion des d\u00e9fauts est effectu\u00e9e de mani\u00e8re continue<\/strong>, et le temps n\u00e9cessaire pour d\u00e9tecter un d\u00e9faut d\u00e9tectable et amener le syst\u00e8me dans un \u00e9tat s\u00fbr est inf\u00e9rieur au temps de s\u00e9curit\u00e9 du proc\u00e9d\u00e9<\/strong> ; ou<\/li>\n
  • La gestion des d\u00e9fauts est effectu\u00e9e p\u00e9riodiquement, et la somme de l\u2019intervalle de test, du temps n\u00e9cessaire pour d\u00e9tecter un d\u00e9faut d\u00e9tectable et du temps n\u00e9cessaire pour amener le syst\u00e8me dans un \u00e9tat s\u00fbr est inf\u00e9rieure au temps de s\u00e9curit\u00e9 du proc\u00e9d\u00e9.<\/li>\n<\/ul>\n

    Le tableau 1 r\u00e9sume toutes les conditions possibles li\u00e9es \u00e0 une mise en \u0153uvre correcte d\u2019une architecture 1oo1D.<\/p>\n

      \n
    • Situation 1 et 3. <\/strong>Si aucun \u00e9tat s\u00fbr n\u2019est possible, que la fr\u00e9quence de test soit optimale ou non, nous ne pouvons pas revendiquer une architecture 1oo1D<\/strong>.
      \nDans ce cas, on revient \u00e0 une architecture 1oo1, o\u00f9 des composants \u00e9prouv\u00e9s (well-tried components) doivent \u00eatre utilis\u00e9s.<\/li>\n<\/ul>\n

      La raison de la diff\u00e9rence avec la norme ISO 13849-1, dans le cas de la situation 3, est li\u00e9e au fait que la norme IEC 62061 est reli\u00e9e \u00e0 IEC 61508.<\/p>\n

      [IEC 61508-2] 7.4.8 Exigences relatives au comportement du syst\u00e8me lors de la d\u00e9tection d\u2019un d\u00e9faut<\/em><\/strong><\/p>\n

      7.4.8.3 <\/em><\/strong>La d\u00e9tection d\u2019un d\u00e9faut dangereux (par des tests de diagnostic, des tests de preuve ou tout autre moyen) dans tout sous-syst\u00e8me ayant une tol\u00e9rance aux d\u00e9faillances mat\u00e9rielles de 0 doit, dans le cas d\u2019un sous-syst\u00e8me mettant en \u0153uvre une ou plusieurs fonctions de s\u00e9curit\u00e9 fonctionnant en mode de forte demande ou en mode continu, entra\u00eener une action sp\u00e9cifi\u00e9e pour atteindre ou maintenir un \u00e9tat s\u00fbr<\/strong> (voir la note).<\/em><\/p>\n

      NOTE\u00a0: <\/em><\/strong>L\u2019action sp\u00e9cifi\u00e9e n\u00e9cessaire pour atteindre ou maintenir un \u00e9tat s\u00fbr sera d\u00e9finie dans les exigences de s\u00e9curit\u00e9 du syst\u00e8me E\/E\/PE (voir IEC61508-1,.10). Elle peut consister, par exemple, en l\u2019arr\u00eat s\u00fbr de l\u2019EUC (Equipment Under Control), ou de la partie de l\u2019EUC qui d\u00e9pend du sous-syst\u00e8me d\u00e9faillant pour la s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle.<\/em><\/p><\/blockquote>\n

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      • Situation 2.<\/strong> Aucun test optimal n\u2019est pr\u00e9sent ; cependant, si un d\u00e9faut est d\u00e9tect\u00e9, il est possible de mettre le syst\u00e8me dans un \u00e9tat s\u00fbr. On peut alors revendiquer une architecture de sous-syst\u00e8me de base 1oo1D<\/strong> et atteindre SIL 2, si toutes les autres conditions sont remplies.<\/li>\n<\/ul>\n

        Il n\u2019est pas n\u00e9cessaire d\u2019utiliser des composants \u00e9prouv\u00e9s.<\/p>\n

          \n
        • Nous avons \u00e0 la fois un test optimal et, si un d\u00e9faut est d\u00e9tect\u00e9, il est possible de mettre le syst\u00e8me dans un \u00e9tat s\u00fbr. On peut donc revendiquer une architecture de sous-syst\u00e8me de base 1oo1D<\/strong> et atteindre SIL 2, si toutes les autres conditions sont remplies. Il n\u2019est pas n\u00e9cessaire d\u2019utiliser des composants \u00e9prouv\u00e9s.<\/li>\n<\/ul>\n

          Cette architecture est \u00ab\u00a0d\u00e9licate\u00a0\u00bb, de mani\u00e8re similaire \u00e0 la Cat\u00e9gorie 2.
          \nLe probl\u00e8me r\u00e9side dans la d\u00e9faillance de la fonction de diagnostic, appel\u00e9e fonction de traitement des d\u00e9fauts, alors que le canal fonctionnel continue de fonctionner. La Fonction de Traitement des D\u00e9fauts<\/strong> comprend \u00e0 la fois la fonction de diagnostic des d\u00e9fauts et la fonction de r\u00e9action au d\u00e9faut.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

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          \n Architecture de sous-syst\u00e8me de base C avec traitement des d\u00e9fauts r\u00e9alis\u00e9 par le SCS <\/h2>\n <\/div>\n \n
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          Il s\u2019agit de la situation la plus simple, puisque les fonctions de diagnostic<\/strong> et de r\u00e9action au d\u00e9faut (\u00e9quivalentes au TE et \u00e0 l\u2019OTE dans la norme ISO 13849-1) font d\u00e9j\u00e0 partie de la fonction de s\u00e9curit\u00e9. La fonction de traitement des d\u00e9fauts est enti\u00e8rement r\u00e9alis\u00e9e par un sous-syst\u00e8me distinct du SCS, qui participe \u00e9galement \u00e0 l\u2019ex\u00e9cution de la fonction de s\u00e9curit\u00e9<\/strong> et contribue donc \u00e0 son PFH.<\/p>\n

          Autrement dit, dans ce cas, nous pouvons ignorer la fiabilit\u00e9 du canal de surveillance, puisque celle-ci est d\u00e9j\u00e0 prise en compte lors du calcul de la fiabilit\u00e9 du canal fonctionnel.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n

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          Cela pourrait \u00eatre le cas o\u00f9 un syst\u00e8me de commande li\u00e9 \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 surveille si un contacteur de moteur s\u2019est ouvert et, en cas de d\u00e9faillance, d\u00e9s\u00e9nergise un autre contacteur faisant partie d\u2019une autre fonction de s\u00e9curit\u00e9.<\/p>\n

          Si l\u2019on consid\u00e8re un sous-syst\u00e8me C, compos\u00e9 de n<\/em> \u00e9l\u00e9ments num\u00e9rot\u00e9s de 1 \u00e0 n<\/em>, le PFH est donn\u00e9 par la formule suivante :<\/p>\n<\/div> <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n

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          Comme on peut le constater, la fiabilit\u00e9 de la fonction de traitement des d\u00e9fauts (ou fonction de surveillance) n\u2019appara\u00eet pas dans la formule. Il s\u2019agit de la m\u00eame formule que celle utilis\u00e9e dans la premi\u00e8re \u00e9dition de la norme.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

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          \n Architecture de sous-syst\u00e8me de base C avec traitement des d\u00e9fauts mixte <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n
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          Il s\u2019agit de tous les cas o\u00f9 la fiabilit\u00e9 du canal de surveillance, ou plus pr\u00e9cis\u00e9ment de la fonction de traitement des d\u00e9fauts, se situe en dehors de la fonction de s\u00e9curit\u00e9. Afin de calculer le PFH de cette architecture, un nouveau taux de d\u00e9faillance doit \u00eatre introduit : il est appel\u00e9 le taux de d\u00e9faillance de la Fonction de Traitement des D\u00e9fauts<\/strong>, ou \u03bb<\/strong>D-FH<\/sub><\/strong>.<\/p>\n

          Un mod\u00e8le de Markov a \u00e9t\u00e9 utilis\u00e9 pour obtenir les diff\u00e9rentes formules du PFH.<\/p>\n

          Il existe trois situations possibles:<\/p>\n

            \n
          1. Le sous-syst\u00e8me C dispose d\u2019un diagnostic de d\u00e9faut externe<\/strong> (TE), mais l\u2019\u00e9l\u00e9ment qui r\u00e9alise la r\u00e9action au d\u00e9faut (qui correspondrait \u00e0 l\u2019OTE dans la cat\u00e9gorie 2 de la norme ISO 13849-1) est interne au sous-syst\u00e8me<\/li>\n<\/ol>\n

            Dans ce cas, le taux de d\u00e9faillance de la fonction de traitement des d\u00e9fauts comprend uniquement la fonction de r\u00e9action au d\u00e9faut.<\/p>\n

            Cela signifie que \u03bb<\/strong>D-FH<\/sub><\/strong>= \u03bb<\/strong>D-FR<\/sub><\/strong><\/p>\n

            Le taux de d\u00e9faillance de la Fonction de Diagnostic<\/strong> des d\u00e9fauts n\u2019est pas pris en compte, puisqu\u2019il est d\u00e9j\u00e0 consid\u00e9r\u00e9 lors du calcul de la fiabilit\u00e9 du canal fonctionnel.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

            <\/div>\n \n\n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n
            \n\n \n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n
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            \n

            2. Le sous-syst\u00e8me C dispose d\u2019une R\u00e9action au D\u00e9faut externe<\/strong> (OTE), tandis que le Diagnostic des D\u00e9fauts<\/strong> (TE) est r\u00e9alis\u00e9 en interne au sous-syst\u00e8me.<\/p>\n

            Dans ce cas, le taux de d\u00e9faillance de la fonction de traitement des d\u00e9fauts<\/strong> comprend uniquement la fonction de diagnostic des d\u00e9fauts.<\/p>\n

            Cela signifie que \u03bb<\/strong>D-FH<\/sub><\/strong>= \u03bb<\/strong>D-FD<\/sub><\/strong><\/p>\n

            Le taux de d\u00e9faillance de la fonction de r\u00e9action au d\u00e9faut n\u2019est pas pris en compte, puisqu\u2019il est d\u00e9j\u00e0 consid\u00e9r\u00e9 lors du calcul de la fiabilit\u00e9 du canal fonctionnel.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

            <\/div>\n \n\n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n
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            \n \n
            \n

            3. Le sous-syst\u00e8me C poss\u00e8de \u00e0 la fois le Diagnostic des D\u00e9fauts<\/strong> et la R\u00e9action au D\u00e9faut<\/strong> en interne au sous-syst\u00e8me.<\/p>\n

            Dans ce cas, le taux de d\u00e9faillance de la fonction de traitement des d\u00e9fauts comprend \u00e0 la fois la fonction de diagnostic des d\u00e9fauts et la fonction de r\u00e9action au d\u00e9faut.<\/p>\n

            Cela signifie que \u03bb<\/strong>D-FH <\/sub><\/strong>= \u03bb<\/strong>D-FD <\/sub><\/strong>+ \u03bb<\/strong>D-FR<\/sub><\/strong><\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

            <\/div>\n \n\n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n
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            \n \n \n

            \n PFH dans le cas o\u00f9 les quatre conditions sont satisfaites <\/h2>\n <\/div>\n \n
            \n

            Dans les trois cas pr\u00e9c\u00e9demment d\u00e9crits, il existe une \u00e9quation simple qui peut \u00eatre utilis\u00e9e pour calculer la valeur du PFH, \u00e0 condition que toutes les conditions suivantes soient satisfaites<\/strong>:<\/p>\n

             <\/p>\n

              \n
            1. \u03b2 \u2264 2 %;<\/li>\n
            2. DC \u2264 99 %;<\/li>\n
            3. 1\/\u03bbDe\u00a0 <\/sub>\u2264 1.000 years;<\/li>\n
            4. 1\/ \u03bbD-FH <\/sub>pr\u00e9sente au moins la valeur minimale indiqu\u00e9e dans le tableau 7.9 {7.2.4.1};<\/li>\n<\/ol>\n

              O\u00f9 \u03bbD-FH<\/sub> est le taux de d\u00e9faillance de l\u2019\u00e9l\u00e9ment unique qui r\u00e9alise la fonction de traitement des d\u00e9fauts au sein du sous-syst\u00e8me.<\/p>\n

              L’\u00e9quation est la suivante:<\/p>\n<\/div> <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n

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              \n

              Si le canal fonctionnel comporte plus d\u2019un \u00e9l\u00e9ment, le DC correspondant est calcul\u00e9 \u00e0 l\u2019aide de la formule suivante.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n

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              \n \n \n

              \n PFH dans le cas o\u00f9 l\u2019une des quatre conditions n\u2019est pas satisfaite <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n
              \n \n
              \n

              Si l\u2019une des quatre conditions ci-dessus n\u2019est pas satisfaite, la formule simplifi\u00e9e ne peut pas \u00eatre utilis\u00e9e, car elle pourrait donner une valeur de PFH plus faible et donc indiquer une fiabilit\u00e9 plus \u00e9lev\u00e9e que celle r\u00e9elle.
              \nSi le canal fonctionnel est constitu\u00e9 d\u2019un seul \u00e9l\u00e9ment et que la fonction de traitement des d\u00e9fauts, au sein du sous-syst\u00e8me, est r\u00e9alis\u00e9e par un autre \u00e9l\u00e9ment unique, l\u2019\u00e9quation suivante peut \u00eatre utilis\u00e9e:<\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n \n\n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n

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              O\u00f9:<\/p>\n

                \n
              • T1<\/sub><\/strong> est l\u2019intervalle de test de preuve correspondant \u00e0 un test de preuve parfait ou \u00e0 la dur\u00e9e de vie utile, selon la plus petite des deux valeurs.<\/li>\n
              • \ud835\udf06<\/strong>De<\/sub><\/strong> est le taux de d\u00e9faillance dangereuse de l\u2019\u00e9l\u00e9ment unique du canal fonctionnel.<\/li>\n
              • \ud835\udf06<\/strong>D-FH<\/sub><\/strong> est le taux de d\u00e9faillance de l\u2019\u00e9l\u00e9ment unique qui r\u00e9alise la ou les fonctions de traitement des d\u00e9fauts au sein du sous-syst\u00e8me;<\/li>\n
              • DC<\/strong> est la couverture de diagnostic pour l\u2019\u00e9l\u00e9ment unique e<\/em> du canal fonctionnel<\/strong>;<\/li>\n
              • \u03b2<\/strong> est la susceptibilit\u00e9 aux d\u00e9faillances de cause commune<\/strong> entre le canal fonctionnel et le canal qui r\u00e9alise la ou les fonctions de traitement des d\u00e9fauts au sein du sous-syst\u00e8me.<\/li>\n<\/ul>\n

                La m\u00eame \u00e9quation peut \u00e9galement \u00eatre utilis\u00e9e m\u00eame si les quatre conditions mentionn\u00e9es ci-dessus sont satisfaites : il s\u2019agit de la formule g\u00e9n\u00e9rale pour l\u2019architecture C, qui est toujours valable<\/strong>.<\/p>\n

                On peut remarquer que, dans le cas o\u00f9 le taux de d\u00e9faillance dangereuse<\/strong> de la ou des fonctions de traitement des d\u00e9fauts au sein du sous-syst\u00e8me peut \u00eatre suppos\u00e9 nul<\/strong> (\ud835\udf06D-FH<\/sub> = 0), l\u2019\u00e9quation devient identique \u00e0 celle du <\/strong>\u00a7 7.2.6.1. La raison est \u00e9vidente: le canal de surveillance est suppos\u00e9 avoir une fiabilit\u00e9 tr\u00e8s \u00e9lev\u00e9e.<\/p>\n

                Veuillez noter que la formule g\u00e9n\u00e9rale peut \u00e9galement \u00eatre utilis\u00e9e m\u00eame si la fiabilit\u00e9 de la fonction de traitement des d\u00e9fauts est inf\u00e9rieure \u00e0 celle requise par le tableau 2.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

                <\/div>\n \n\n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n
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                \n \n \n

                \n Implications des contraintes architecturales dans l\u2019architecture de sous-syst\u00e8me de base C <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n
                \n \n
                \n

                Les sous-syst\u00e8mes d\u2019architecture C<\/strong> poss\u00e8dent une HFT = 0. Cela signifie que, sur la base du SFF, un niveau maximal SIL 3 peut \u00eatre atteint. Cependant, il est important de v\u00e9rifier qu\u2019au moins l\u2019une des conditions suivantes est satisfaite:<\/strong><\/p>\n

                  \n
                • la somme de l\u2019intervalle de test de diagnostic et du temps n\u00e9cessaire pour ex\u00e9cuter la fonction de r\u00e9action au d\u00e9faut sp\u00e9cifi\u00e9e afin d\u2019atteindre ou de maintenir un \u00e9tat s\u00fbr doit \u00eatre inf\u00e9rieure au temps de s\u00e9curit\u00e9 du proc\u00e9d\u00e9 (voir par exemple ISO 13855) ;<\/li>\n
                • ou le rapport entre le taux de test de diagnostic et le taux de demande doit \u00eatre \u00e9gal ou sup\u00e9rieur \u00e0 100. Cette derni\u00e8re condition aligne l\u2019architecture 1oo1D avec la cat\u00e9gorie 2.<\/li>\n<\/ul>\n

                  Par cons\u00e9quent, un sous-syst\u00e8me \u00e0 canal unique surveill\u00e9 (1oo1D) pour lequel aucune de ces deux conditions n\u2019est satisfaite doit \u00eatre consid\u00e9r\u00e9 comme une architecture de sous-syst\u00e8me de base A (1oo1) ; se r\u00e9f\u00e9rer au tableau 7.8.<\/p>\n

                  Le tableau 3 est applicable. Normalement SFF < 99 %, car SFF \u2265 99 % n\u2019est possible que lorsqu\u2019il existe une surveillance continue du bon fonctionnement de l\u2019\u00e9l\u00e9ment : typiquement, seule la technologie \u00e9lectronique permet cela.<\/p>\n

                  Table 3: Architectural constraints on a subsystem: Maximum SIL that can be claimed for an SCS<\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

                  <\/div>\n \n\n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n
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                  \n \n \n

                  \n Exemple d\u2019une architecture de base de sous-syst\u00e8me C <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n
                  \n \n
                  \n

                  Consid\u00e9rons le sous-syst\u00e8me de sortie tel qu\u2019illustr\u00e9 \u00e0 la Figure 7. KP<\/sub> poss\u00e8de un B10<\/sub> = 106<\/sup> avec 73% de d\u00e9faillances dangereuses. U< poss\u00e8de un B<\/strong> B10<\/sub> = 4\u00b7105<\/sup>. Le temps de mission du contacteur et de la bobine de sous-tension est de 20 ans.<\/p>\n

                  On suppose que\u00a0KP<\/sub> s\u2019ouvre deux fois par minute, tandis que U< est suppos\u00e9 s\u2019ouvrir une fois par mois.<\/p>\n

                  Concentrons-nous maintenant sur le calcul de la probabilit\u00e9 de d\u00e9faillances al\u00e9atoires<\/strong>.<\/p>\n

                    \n
                  1. La premi\u00e8re \u00e9tape<\/strong> consiste \u00e0 calculer \ud835\udf06<\/strong>D<\/sub><\/strong> du contacteur KP<\/sub>. Nous supposons que la machine fonctionne 240 jours par an et huit heures par jour.<\/li>\n<\/ol>\n<\/div> <\/div>\n \n \n
                    <\/div>\n \n\n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n
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                    <\/div>\n \n\n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n
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                    \n

                    2. La deuxi\u00e8me \u00e9tape<\/strong> consiste \u00e0 calculer T1 <\/sub>and \u03b2.<\/p>\n

                    T1<\/sub>= min (dur\u00e9e de vie utile ; test de preuve)\u00a0;<\/p>\n

                    Dur\u00e9e de vie utile = min (temps de mission; T10D<\/sub>);<\/p>\n

                    Temps de mission = 20 ans.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n

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                    \n

                    Dur\u00e9e de vie utile = min (20 ans; 5,9 ans) \u00e0 Dur\u00e9e de vie utile = 5,9 ans;<\/p>\n

                     <\/p>\n

                    Test de Preuve > 20 ans<\/p>\n

                    T1<\/sub> = min (5,9 ans; > 20 ans) \u00e0T1 <\/sub>= 5,9 ans = 52 560 heures<\/strong>;<\/p>\n

                    Sur la base des crit\u00e8res de d\u00e9faillances de cause commune (CCF) list\u00e9s dans l\u2019Annexe E de la norme, on peut supposer \u03b2 = 0,02.<\/p>\n

                     <\/p>\n

                    3. La troisi\u00e8me \u00e9tape<\/strong> consiste \u00e0 d\u00e9terminer la couverture diagnostique. \u00c9tant donn\u00e9 qu\u2019il s\u2019agit d\u2019un canal unique avec un \u00e9l\u00e9ment de test qui surveille directement l\u2019\u00e9tat de KP<\/sub>, nous supposons DC = SFF = 90%.<\/p>\n

                    Maintenant, nous devons v\u00e9rifier que la valeur \ud835\udf06<\/strong>D-FH<\/sub><\/strong> du canal de test n\u2019est pas inf\u00e9rieure \u00e0 celle sp\u00e9cifi\u00e9e dans le Tableau 2. Dans ce cas, le canal fonctionnel et le canal de test ont le PLC de s\u00e9curit\u00e9 en commun ; en d\u2019autres termes, nous sommes dans la situation de la Figure 4 : Diagnostic de d\u00e9faut externe (External Fault Diagnostic).<\/p>\n

                    La r\u00e9action au d\u00e9faut (la bobine de sous-tension) est consid\u00e9r\u00e9e comme faisant partie du sous-syst\u00e8me de sortie, tandis que le traitement du d\u00e9faut ne l\u2019est pas, puisque sa fiabilit\u00e9 est d\u00e9j\u00e0 prise en compte dans le calcul de fiabilit\u00e9 du canal fonctionnel, qui inclut la logique de s\u00e9curit\u00e9.<\/p>\n

                    Pour cette raison, seul le taux de d\u00e9faillance de la bobine de sous-tension est important pour \ud835\udf06<\/strong>D-FH<\/sub><\/strong>.<\/p>\n

                    U< n\u2019est utilis\u00e9 que lorsqu\u2019un d\u00e9faut est d\u00e9tect\u00e9, une fois par mois<\/strong>:<\/p>\n<\/div> <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n

                    \n\n \n\n
                    \n \n \n
                    \n

                    Puisque nous revendiquons une DC de 90 %, sur la base du Tableau 2, la valeur minimale de \u00a0<\/strong>est 1200.<\/p>\n

                    Dans ce cas ; est largement sup\u00e9rieur \u00e0 la valeur requise dans le Tableau 2 : la condition est satisfaite.<\/p>\n

                    4. La quatri\u00e8me \u00e9tape<\/strong> consiste \u00e0 d\u00e9terminer la couverture diagnostique. \u00c9tant donn\u00e9 qu\u2019il s\u2019agit d\u2019un canal unique avec un \u00e9l\u00e9ment de test qui surveille directement l\u2019\u00e9tat de KP<\/sub>, nous supposons DC = SFF = 90%.<\/p>\n

                    5. La derni\u00e8re \u00e9tape<\/strong> consiste \u00e0 calculer le PFH.<\/p>\n

                    Toutes les conditions suivantes sont satisfaites :<\/p>\n

                      \n
                    • \u03b2 \u2264 2 %;<\/li>\n
                    • DC \u2264 99 %;<\/li>\n
                    • 1\/ \ud835\udf06\ud835\udc37\ud835\udc52<\/sub> =1\/ \ud835\udf06\ud835\udc37<\/sub>KP<\/sub> = 1\/1,92 x 10-6 8760 = 59,5 < 1.000 years;<\/li>\n
                    • 1\/ \ud835\udf06D-FH<\/sub> =1\/ \ud835\udf06DFR<\/sub> =1\/ \ud835\udf06DU<<\/sub> = 333 333 > 1200 years;<\/li>\n<\/ul>\n

                      Par cons\u00e9quent, l\u2019\u00e9quation simplifi\u00e9e peut \u00eatre utilis\u00e9e.<\/p>\n

                      Avec un SFF = 90 % et un HFT = 0, le niveau SIL est limit\u00e9 \u00e0 SIL 2 par les contraintes architecturales.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n

                      \n\n \n \n \n
                      \n \n
                      \n

                      Avec un SFF = 90 % et un HFT = 0, le niveau SIL est limit\u00e9 \u00e0 SIL 2 par les contraintes architecturales.<\/p>\n

                      Le sous-syst\u00e8me de s\u00e9curit\u00e9 atteint le niveau SIL 2<\/strong> et pr\u00e9sente un PFH = 1,92 <\/strong>10-7<\/sup><\/strong><\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n \n\n <\/div>\n <\/section>\n\n \n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

                      Cet article fait partie d’une s\u00e9rie d’articles consacr\u00e9s \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle des machines.<\/p>\n","protected":false},"author":2,"featured_media":51720,"parent":49611,"menu_order":13,"template":"","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"class_list":["post-51700","pubblicazione","type-pubblicazione","status-publish","has-post-thumbnail","hentry"],"acf":[],"yoast_head":"\nP14: S\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle en forte demande : IEC 62061 et architectures, Partie 2 - Gt-Engineering<\/title>\n<meta name=\"description\" content=\"Cet article fait partie d'une s\u00e9rie consacr\u00e9e \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle , son objectif est de pr\u00e9senter la norme CEI 62061\" \/>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"fr_FR\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"P14: S\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle en forte demande : IEC 62061 et architectures, Partie 2 - Gt-Engineering\" \/>\n<meta property=\"og:description\" content=\"Cet article fait partie d'une s\u00e9rie consacr\u00e9e \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle , son objectif est de pr\u00e9senter la norme CEI 62061\" \/>\n<meta property=\"og:url\" content=\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/\" \/>\n<meta property=\"og:site_name\" content=\"Gt-Engineering\" \/>\n<meta property=\"article:modified_time\" content=\"2026-03-30T07:32:21+00:00\" \/>\n<meta property=\"og:image\" content=\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/copertina-3.png\" \/>\n\t<meta property=\"og:image:width\" content=\"969\" \/>\n\t<meta property=\"og:image:height\" content=\"582\" \/>\n\t<meta property=\"og:image:type\" content=\"image\/png\" \/>\n<meta name=\"twitter:card\" content=\"summary_large_image\" \/>\n<meta name=\"twitter:label1\" content=\"Dur\u00e9e de lecture estim\u00e9e\" \/>\n\t<meta name=\"twitter:data1\" content=\"1 minute\" \/>\n<script type=\"application\/ld+json\" class=\"yoast-schema-graph\">{\"@context\":\"https:\/\/schema.org\",\"@graph\":[{\"@type\":\"WebPage\",\"@id\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/\",\"url\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/\",\"name\":\"P14: S\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle en forte demande : IEC 62061 et architectures, Partie 2 - Gt-Engineering\",\"isPartOf\":{\"@id\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/#website\"},\"primaryImageOfPage\":{\"@id\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/#primaryimage\"},\"image\":{\"@id\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/#primaryimage\"},\"thumbnailUrl\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/copertina-3.png\",\"datePublished\":\"2026-03-13T09:45:43+00:00\",\"dateModified\":\"2026-03-30T07:32:21+00:00\",\"description\":\"Cet article fait partie d'une s\u00e9rie consacr\u00e9e \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle , son objectif est de pr\u00e9senter la norme CEI 62061\",\"breadcrumb\":{\"@id\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/#breadcrumb\"},\"inLanguage\":\"fr-FR\",\"potentialAction\":[{\"@type\":\"ReadAction\",\"target\":[\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/\"]}]},{\"@type\":\"ImageObject\",\"inLanguage\":\"fr-FR\",\"@id\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/#primaryimage\",\"url\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/copertina-3.png\",\"contentUrl\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/copertina-3.png\",\"width\":969,\"height\":582},{\"@type\":\"BreadcrumbList\",\"@id\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/#breadcrumb\",\"itemListElement\":[{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":1,\"name\":\"Accueil\",\"item\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/\"},{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":2,\"name\":\"Publications\",\"item\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/\"},{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":3,\"name\":\"Approfondissements articles tuttomisure\",\"item\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/\"},{\"@type\":\"ListItem\",\"position\":4,\"name\":\"P14: S\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle en forte demande : IEC 62061 et architectures, Partie 2\"}]},{\"@type\":\"WebSite\",\"@id\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/#website\",\"url\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/\",\"name\":\"Gt-Engineering\",\"description\":\"bizonweb\",\"potentialAction\":[{\"@type\":\"SearchAction\",\"target\":{\"@type\":\"EntryPoint\",\"urlTemplate\":\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/?s={search_term_string}\"},\"query-input\":{\"@type\":\"PropertyValueSpecification\",\"valueRequired\":true,\"valueName\":\"search_term_string\"}}],\"inLanguage\":\"fr-FR\"}]}<\/script>\n<!-- \/ Yoast SEO plugin. -->","yoast_head_json":{"title":"P14: S\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle en forte demande : IEC 62061 et architectures, Partie 2 - Gt-Engineering","description":"Cet article fait partie d'une s\u00e9rie consacr\u00e9e \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle , son objectif est de pr\u00e9senter la norme CEI 62061","robots":{"index":"index","follow":"follow","max-snippet":"max-snippet:-1","max-image-preview":"max-image-preview:large","max-video-preview":"max-video-preview:-1"},"canonical":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/","og_locale":"fr_FR","og_type":"article","og_title":"P14: S\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle en forte demande : IEC 62061 et architectures, Partie 2 - Gt-Engineering","og_description":"Cet article fait partie d'une s\u00e9rie consacr\u00e9e \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle , son objectif est de pr\u00e9senter la norme CEI 62061","og_url":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/","og_site_name":"Gt-Engineering","article_modified_time":"2026-03-30T07:32:21+00:00","og_image":[{"width":969,"height":582,"url":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/copertina-3.png","type":"image\/png"}],"twitter_card":"summary_large_image","twitter_misc":{"Dur\u00e9e de lecture estim\u00e9e":"1 minute"},"schema":{"@context":"https:\/\/schema.org","@graph":[{"@type":"WebPage","@id":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/","url":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/","name":"P14: S\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle en forte demande : IEC 62061 et architectures, Partie 2 - Gt-Engineering","isPartOf":{"@id":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/#website"},"primaryImageOfPage":{"@id":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/#primaryimage"},"image":{"@id":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/#primaryimage"},"thumbnailUrl":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/copertina-3.png","datePublished":"2026-03-13T09:45:43+00:00","dateModified":"2026-03-30T07:32:21+00:00","description":"Cet article fait partie d'une s\u00e9rie consacr\u00e9e \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle , son objectif est de pr\u00e9senter la norme CEI 62061","breadcrumb":{"@id":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/#breadcrumb"},"inLanguage":"fr-FR","potentialAction":[{"@type":"ReadAction","target":["https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/"]}]},{"@type":"ImageObject","inLanguage":"fr-FR","@id":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/#primaryimage","url":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/copertina-3.png","contentUrl":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/wp-content\/uploads\/2026\/03\/copertina-3.png","width":969,"height":582},{"@type":"BreadcrumbList","@id":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/pt-14-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-iec-62061-et-architectures-partie-2\/#breadcrumb","itemListElement":[{"@type":"ListItem","position":1,"name":"Accueil","item":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/"},{"@type":"ListItem","position":2,"name":"Publications","item":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/"},{"@type":"ListItem","position":3,"name":"Approfondissements articles tuttomisure","item":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/"},{"@type":"ListItem","position":4,"name":"P14: S\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle en forte demande : IEC 62061 et architectures, Partie 2"}]},{"@type":"WebSite","@id":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/#website","url":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/","name":"Gt-Engineering","description":"bizonweb","potentialAction":[{"@type":"SearchAction","target":{"@type":"EntryPoint","urlTemplate":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/?s={search_term_string}"},"query-input":{"@type":"PropertyValueSpecification","valueRequired":true,"valueName":"search_term_string"}}],"inLanguage":"fr-FR"}]}},"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/pubblicazione\/51700","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/pubblicazione"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/pubblicazione"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/users\/2"}],"version-history":[{"count":8,"href":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/pubblicazione\/51700\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":51811,"href":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/pubblicazione\/51700\/revisions\/51811"}],"up":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/pubblicazione\/49611"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media\/51720"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=51700"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}