{"id":50211,"date":"2025-11-14T15:24:27","date_gmt":"2025-11-14T14:24:27","guid":{"rendered":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/?post_type=pubblicazione&p=50211"},"modified":"2026-03-30T08:31:42","modified_gmt":"2026-03-30T07:31:42","slug":"la-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-introduction-a-la-norme-cei-62061","status":"publish","type":"pubblicazione","link":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/la-securite-fonctionnelle-en-forte-demande-introduction-a-la-norme-cei-62061\/","title":{"rendered":"P12: La s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle en forte demande\u00a0: introduction \u00e0 la norme IEC 62061"},"content":{"rendered":"\n\n \n \n \n
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\n R\u00e9sum\u00e9e <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n
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Cet article fait partie d’une s\u00e9rie consacr\u00e9e \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle des machines. Nous avons r\u00e9cemment pr\u00e9sent\u00e9 l’une des deux normes les plus demand\u00e9es pour la conception de syst\u00e8mes de contr\u00f4le de s\u00e9curit\u00e9 : ISO 13849-1. Nous allons maintenant pr\u00e9senter la norme IEC 62061.<\/span><\/p>\n

La norme a \u00e9t\u00e9 mise \u00e0 jour en 2021 et un amendement a \u00e9t\u00e9 publi\u00e9 en 2024. Il s’agit de la deuxi\u00e8me norme utilis\u00e9e en mati\u00e8re de s\u00e9curit\u00e9 des machines, et la moins utilis\u00e9e. Elle est issue de l’approche de la s\u00e9rie IEC 61508 et le niveau de fiabilit\u00e9 d’une fonction de s\u00e9curit\u00e9 est indiqu\u00e9 en SIL (niveau d’int\u00e9grit\u00e9 de s\u00e9curit\u00e9). C’est la norme privil\u00e9gi\u00e9e pour les machines int\u00e9grant des boucles de processus, comme les fours industriels ou les installations chimiques.<\/span><\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

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\n Bref historique de la norme CEI 62061 <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n
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La premi\u00e8re \u00e9dition de la norme IEC 62061 a \u00e9t\u00e9 publi\u00e9e en 2005. Elle s’inscrit dans la d\u00e9marche d\u00e9taill\u00e9e de la norme IEC 61508. Elle s’adresse au secteur des machines et permet de v\u00e9rifier le niveau de fiabilit\u00e9 atteint par un syst\u00e8me de contr\u00f4le relatif \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 (SCS).<\/span><\/p>\n

[CEI 62061 DIS: 2020] Introduction<\/span><\/em><\/strong><\/p>\n

[\u2026] La pr\u00e9sente Norme internationale est destin\u00e9e aux concepteurs de machines, aux fabricants et int\u00e9grateurs de syst\u00e8mes de commande, ainsi qu’aux autres acteurs impliqu\u00e9s dans la sp\u00e9cification, la conception et la validation d’un SCS. Elle d\u00e9finit une approche et fournit des exigences pour atteindre les performances n\u00e9cessaires.\u00a0 <\/span><\/em><\/p><\/blockquote>\n

Vers 2010, un groupe de travail a \u00e9t\u00e9 cr\u00e9\u00e9 avec pour mission de r\u00e9diger une norme commune pour la s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle des machines, appel\u00e9e ISO\/IEC 17305, combinant les normes ISO 13849-1 et ISO 62061. Malheureusement, cette nouvelle norme n’a pas vu le jour. Lors de sa premi\u00e8re r\u00e9union, l’\u00e9quipe de maintenance (MT 62061, comme on l’appelle \u00e0 la IEC ) a d\u00e9cid\u00e9 que les r\u00e9sultats de ses travaux serviraient de point de d\u00e9part \u00e0 la nouvelle \u00e9dition. C’est l’une des raisons pour lesquelles la nouvelle \u00e9dition de la IEC 62061 se rapproche davantage de l’ISO 13849-1 : l’\u00e9quipe a concili\u00e9 l’approche de la IEC 61508 <\/span>avec le pragmatisme de la norme ISO 13849-1<\/span><\/strong> . Voici les principales modifications par rapport \u00e0 l’\u00e9dition pr\u00e9c\u00e9dente\u00a0:<\/span><\/p>\n

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  • La nouvelle norme s’applique d\u00e9sormais aux technologies non \u00e9lectriques. C’est pourquoi elle fait d\u00e9sormais r\u00e9f\u00e9rence aux syst\u00e8mes de contr\u00f4le relatifs \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 (SCS) plut\u00f4t qu’aux syst\u00e8mes de contr\u00f4le \u00e9lectrique relatifs \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 (SRECS).<\/span><\/li>\n
  • Les Architectures sont d\u00e9sormais mieux d\u00e9finies, notamment l’Architecture C, ainsi que les formules \u00e0 utiliser.<\/span><\/li>\n
  • La contrainte architecturale, auparavant appel\u00e9e SIL Claim, est d\u00e9sormais d\u00e9finie comme le SIL maximum qu’un sous-syst\u00e8me peut atteindre.<\/span><\/li>\n
  • Des exigences en mati\u00e8re d\u2019ind\u00e9pendance pour les activit\u00e9s de v\u00e9rification et de validation des logiciels ont \u00e9t\u00e9 ajout\u00e9es.<\/span><\/li>\n
  • De nouvelles annexes informatives importantes ont \u00e9t\u00e9 ajout\u00e9es ; les informations contenues et l’approche d\u00e9crite sont celles de la norme ISO 13849-1 :<\/span>\n
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    • Annexe C<\/span><\/strong> sur des exemples de valeurs B <\/span>10D<\/span><\/sub> et MTTF <\/span>D<\/span><\/sub> pour les composants.<\/span><\/li>\n
    • Annexe D\u00a0:<\/span><\/strong> exemples de valeurs de couverture diagnostique<\/span><\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<\/ul>\n<\/div> <\/div>\n \n \n
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      \n Contraintes architecturales <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n
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      La norme IEC 62061 reste connect\u00e9e \u00e0 l’approche IEC 61508 appel\u00e9e Route\u00a01\u00a0<\/span>H.<\/span><\/sub><\/p>\n

      En mode faible demande<\/span><\/strong> , les composants sont class\u00e9s en type A ou type B, et deux tableaux diff\u00e9rents sont utilis\u00e9s pour d\u00e9terminer le niveau SIL maximal qu’un sous-syst\u00e8me de s\u00e9curit\u00e9 peut atteindre. La norme IEC <\/span> 62061 d\u00e9finit cependant un tableau unique pour tous les types de composants, dont le contenu est similaire \u00e0 celui des composants de type B.<\/span><\/p>\n

      Dans le contexte de\u00a0<\/span>l’int\u00e9grit\u00e9 de la s\u00e9curit\u00e9 mat\u00e9rielle<\/span><\/strong> , le niveau le plus \u00e9lev\u00e9 qui peut \u00eatre d\u00e9clar\u00e9 par un syst\u00e8me de contr\u00f4le relatif \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 (SCS) est limit\u00e9 par la tol\u00e9rance aux pannes mat\u00e9rielles (HFT) et la fraction de d\u00e9faillance s\u00fbre (SFF) du sous-syst\u00e8me ex\u00e9cutant la fonction de s\u00e9curit\u00e9 : la r\u00e9f\u00e9rence \u00e0 utiliser est le tableau 1, qui correspond au tableau 6 de la norme IEC <\/span> 62061.<\/span><\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

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      Veuillez noter que la limitation SIL n’implique pas de limitation PFH\u00a0; dans la nouvelle \u00e9dition, PFH\u00a0<\/span>D<\/span><\/sub>\u00a0est d\u00e9sormais simplement appel\u00e9 PFH, conform\u00e9ment \u00e0 la s\u00e9rie IEC 61508. Cela signifie que, pour chaque sous-syst\u00e8me, en raison de la contrainte architecturale, la valeur PFH sera inf\u00e9rieure \u00e0 celle normalement indiqu\u00e9e pour ce niveau SIL particulier.<\/span><\/p>\n

      Globalement, le langage utilis\u00e9 et les approches d\u00e9crites dans cette deuxi\u00e8me \u00e9dition de la norme sont plus clairs, la rendant plus accessible que la premi\u00e8re. Malheureusement, certaines expressions h\u00e9rit\u00e9es de l’\u00e9dition 2005 peuvent pr\u00eater \u00e0 confusion quant \u00e0 l’approche \u00e0 adopter et devraient \u00eatre d\u00e9finitivement supprim\u00e9es dans la prochaine \u00e9dition.<\/span><\/p>\n

      Le tableau 2 compare les contraintes architecturales de la norme IEC <\/span> 62061 avec les limitations d\u00e9finies par la norme ISO 13849-1 et est donc applicable \u00e0 tous les syst\u00e8mes de s\u00e9curit\u00e9 en mode de forte demande.<\/span><\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

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      REMARQUE 1\u00a0:<\/span><\/strong>\u00a0Une tol\u00e9rance aux pannes mat\u00e9rielles de N signifie que N+1 pannes peuvent entra\u00eener la perte de la fonction de s\u00e9curit\u00e9.<\/span><\/td>\n<\/tr>\n
      REMARQUE 2 :<\/span><\/strong>\u00a0\u00ab Faible \u00bb, \u00ab moyen \u00bb et \u00ab \u00e9lev\u00e9 \u00bb sont les d\u00e9nominations utilis\u00e9es par la norme ISO 13849-1 pour la quantification et la classification des plages\u00a0<\/span>moyennes<\/span><\/sub>\u00a0DC .<\/span><\/td>\n<\/tr>\n
      REMARQUE 3 :<\/span><\/strong>\u00a0Pour HFT = 0 et SFF \u2265 99 %, les limitations suivantes peuvent \u00eatre pertinentes :<\/span> <\/p>\n

      \u00a7 Il est recommand\u00e9 de limiter le SIL maximal atteignable \u00e0 2 lorsque des exclusions de d\u00e9fauts ont \u00e9t\u00e9 appliqu\u00e9es, ce qui pourrait conduire \u00e0 des situations dangereuses (voir IEC 62061, 7.3.3.3)<\/span><\/p>\n

      Le niveau SIL 3 ne peut \u00eatre atteint qu’avec une surveillance continue du bon fonctionnement de l’\u00e9l\u00e9ment. Des composants \u00e9lectroniques sont g\u00e9n\u00e9ralement n\u00e9cessaires \u00e0 cette fin.<\/span><\/td>\n<\/tr>\n

      REMARQUE 4 :<\/span><\/strong>\u00a0Lorsque des normes de produits, telles que IEC 61800-5, IEC 61800-5, IEC 61131-2, sont utilis\u00e9es, on peut supposer que les principes de s\u00e9curit\u00e9 de base sont respect\u00e9s<\/span><\/td>\n<\/tr>\n
      NOTE 5 :<\/span><\/strong>\u00a0Selon la norme ISO 13849-1, le PL d ne peut \u00eatre atteint que lorsque la sortie (\u00a0<\/span>OTE<\/span><\/strong>\u00a0ou fonction\u00a0<\/span>de r\u00e9action aux d\u00e9fauts<\/span><\/strong>\u00a0) conduit \u00e0 un \u00e9tat s\u00fbr qui est maintenu jusqu’\u00e0 ce que le d\u00e9faut soit corrig\u00e9 : il ne suffit pas que la sortie de l’\u00e9quipement de test (OTE) \u00e9mette une alarme.<\/span><\/td>\n<\/tr>\n
      REMARQUE 6\u00a0:<\/span><\/strong>\u00a0Si vous disposez des deux architectures de base A et B, nous consid\u00e9rons le cas avec uniquement des composants \u00e9lectrom\u00e9caniques.<\/span><\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<\/div> <\/div>\n \n \n
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      Il est \u00e0 noter qu’il\u00a0<\/span>n’existe pas d’\u00e9quivalence entre les niveaux SIL et les niveaux PL a ou PL b.<\/span><\/strong>\u00a0Selon la norme ISO 13849-1, il est possible de cr\u00e9er un syst\u00e8me de s\u00e9curit\u00e9 monocanal sans composants \u00e9prouv\u00e9s\u00a0: il suffit d’utiliser des sous-syst\u00e8mes de cat\u00e9gorie B avec des niveaux de fiabilit\u00e9 \u00e9gaux \u00e0 PL a ou PL b.<\/span><\/p>\n

      Avec la norme IEC 62061, cela n’est pas possible<\/span><\/strong> , car une architecture de sous-syst\u00e8me de base de type A (1oo1) ne peut \u00eatre r\u00e9alis\u00e9e qu’avec des composants \u00e9prouv\u00e9s. Autrement dit, selon la norme ISO 13849-1, il est possible d’utiliser un automate programmable industriel (API) \u00ab\u00a0\u00e0 usage g\u00e9n\u00e9ral\u00a0\u00bb pour mettre en \u0153uvre un syst\u00e8me de s\u00e9curit\u00e9\u00a0: le PL maximal atteignable est PL b. Ceci n’est pas autoris\u00e9 par la norme IEC <\/span> 62061, ni avec un canal unique (architecture A), ni avec un canal redondant sans diagnostic (architecture B).<\/span><\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

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      \n Approche simplifi\u00e9e <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n
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      Similairement aux cat\u00e9gories de la norme ISO 13849-1, la norme IEC <\/span> 62061 propose quatre architectures de sous-syst\u00e8mes de base pour chaque sous-syst\u00e8me de s\u00e9curit\u00e9, permettant une approche simplifi\u00e9e, comme dans la norme ISO 13849-1. Au lieu d’un graphique ou d’un tableau pr\u00e9sentant les valeurs de PFH, la norme IEC <\/span> 62061 propose \u00e0 l’utilisateur des formules qui repr\u00e9sentent g\u00e9n\u00e9ralement une simplification des sch\u00e9mas fonctionnels de fiabilit\u00e9 et sont con\u00e7ues pour fournir des estimations prudentes de PFH. Autrement dit, chaque architecture de base poss\u00e8de une formule de calcul de PFH. Cette formule contient des variables telles que le taux de d\u00e9faillance ou la couverture du diagnostic. Dans le dernier num\u00e9ro de Tuttomisure de 2025, nous d\u00e9taillerons chaque architecture de base et pr\u00e9senterons les diff\u00e9rentes formules.<\/span><\/p>\n

      Toutefois, ces formules ne sont applicables que si les deux conditions suivantes sont remplies :<\/span><\/p>\n

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      • \u03bb\u00a0<\/span><\/strong>T\u00a0<\/span>1<\/span><\/sub>\u00a0<< 1<\/span><\/strong>\u00a0. Cela signifie que le MTTF est bien sup\u00e9rieur \u00e0 T\u00a0<\/span>1<\/span><\/sub>\u00a0: qui repr\u00e9sente la valeur minimale entre l’intervalle de test (Proof Test) et la dur\u00e9e de vie utile du sous-syst\u00e8me.<\/span><\/li>\n<\/ul>\n<\/div> <\/div>\n \n \n
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        • Durant la dur\u00e9e de vie utile, qui correspond \u00e0 la valeur minimale entre le Temps de Mission et le T\u00a0<\/span>10D<\/span><\/sub>\u00a0,\u00a0<\/span>les taux de d\u00e9faillance sont constants<\/span><\/strong>\u00a0.<\/span><\/li>\n<\/ul>\n<\/div> <\/div>\n \n \n
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          \n Diff\u00e9rences avec la norme ISO 13849-1 <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n
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          \n

          Certaines des diff\u00e9rences entre les deux normes sont les suivantes\u00a0:<\/span><\/p>\n

            \n
          • Dans la norme IEC 62061, le risque de\u00a0<\/span>d\u00e9faillance de cause commune (CCF)<\/span><\/strong>\u00a0est \u00e9valu\u00e9 \u00e0 l’aide d’un tableau similaire \u00e0 celui de la norme ISO 13849-1 ; cependant, il n’y a pas de score minimum ; c’est un avantage significatif en faveur de la norme IEC 62061.<\/span><\/li>\n
          • En cat\u00e9gorie 2, la norme ISO 13849-1 exige que le MTTF\u00a0<\/span>D<\/span><\/sub>\u00a0du canal de test (TE ou \u00e9l\u00e9ment de test) ne soit pas inf\u00e9rieur \u00e0 la moiti\u00e9 de la valeur du MTTF\u00a0<\/span>D<\/span><\/sub> du canal fonctionnel. L’\u00e9quivalent de la cat\u00e9gorie 2 dans la norme IEC <\/span> 62061 est l’architecture C. Dans ce cas, cependant, aucun niveau de fiabilit\u00e9 minimal n’est fourni pour la fonction de gestion des d\u00e9fauts (\u03bb\u00a0<\/span>D-FH<\/span><\/sub> ). Si la valeur n’est pas conforme au tableau H.3 de la norme, il n’est pas possible d’utiliser la formule simplifi\u00e9e pour calculer le PFH du sous-syst\u00e8me et la formule g\u00e9n\u00e9rale fournie pour l’architecture de sous-syst\u00e8me de base C doit \u00eatre utilis\u00e9e. C’est \u00e9galement un avantage de la norme IEC <\/span> 62061.<\/span><\/li>\n
          • Dans la norme ISO 13849-1, le MTTF\u00a0<\/span>D<\/span><\/sub> des sous-syst\u00e8mes est limit\u00e9 \u00e0 100 ans, sauf pour la cat\u00e9gorie 4\u00a0; dans la norme IEC <\/span> 62061, il n’y a pas de limitation du PFH, quelle que soit l’architecture, m\u00eame lorsque la contrainte architecturale (limitation du SIL maximal atteignable) est appliqu\u00e9e. Autre avantage de la norme IEC <\/span> 62061.<\/span><\/li>\n<\/ul>\n<\/div> <\/div>\n \n \n
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            \n \n \n

            \n Comment calculer le PFH d’une architecture de sous-syst\u00e8me de base <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n
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            \n

            Les \u00e9l\u00e9ments suivants doivent \u00eatre pris en compte afin de d\u00e9terminer le PFH d’un sous-syst\u00e8me :<\/span><\/p>\n

              \n
            • Chaque sous-syst\u00e8me doit \u00eatre associ\u00e9 \u00e0 l\u2019une des quatre architectures de base.<\/span><\/li>\n
            • La couverture diagnostique (DC) et les intervalles de test doivent \u00eatre \u00e9tablis.<\/span><\/li>\n
            • La d\u00e9faillance de cause commune doit \u00eatre calcul\u00e9e.<\/span><\/li>\n
            • Le \u03bb D<\/span><\/sub>\u00a0ou le MTTF\u00a0<\/span>D<\/span><\/sub>\u00a0des \u00e9l\u00e9ments du sous-syst\u00e8me\u00a0doit \u00eatre calcul\u00e9 .<\/span><\/li>\n
            • La dur\u00e9e de vie utile des composants est g\u00e9n\u00e9ralement de 20 ans, bien que pour les composants pr\u00e9sentant des caract\u00e9ristiques d’usure, la dur\u00e9e de vie utile soit limit\u00e9e par T\u00a0<\/span>10D<\/span><\/sub>\u00a0.<\/span><\/li>\n<\/ul>\n<\/div> <\/div>\n \n \n
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