{"id":50191,"date":"2025-11-04T17:02:13","date_gmt":"2025-11-04T16:02:13","guid":{"rendered":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/?post_type=pubblicazione&p=50191"},"modified":"2026-02-09T09:25:21","modified_gmt":"2026-02-09T08:25:21","slug":"la-fraction-de-defaillance-sure-sff-quest-ce-que-cest-et-comment-lutiliser","status":"publish","type":"pubblicazione","link":"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/la-fraction-de-defaillance-sure-sff-quest-ce-que-cest-et-comment-lutiliser\/","title":{"rendered":"P2: La fraction de d\u00e9faillance s\u00fbre (SFF) : qu'est-ce que c'est et comment l'utiliser."},"content":{"rendered":"\n\n \n \n \n
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Nous rappelons qu’il existe quatre types de d\u00e9faillances :<\/p>\n

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  • Les d\u00e9faillances s\u00fbres ;<\/li>\n
  • Les d\u00e9faillances dangereuses ;<\/li>\n
  • D\u00e9faillances sans effet ; et<\/li>\n
  • Les d\u00e9faillances de pi\u00e8ce ;<\/li>\n<\/ul>\n

    Une d\u00e9faillance s\u00fbre<\/strong> est la d\u00e9faillance d’un \u00e9l\u00e9ment, \u00e0 l’int\u00e9rieur d’un composant qui joue un r\u00f4le dans la mise en \u0153uvre d’une fonction de s\u00e9curit\u00e9, qui entra\u00eene un fonctionnement erron\u00e9<\/strong> de la fonction de s\u00e9curit\u00e9. Cela signifie qu’elle place la machine dans un \u00e9tat s\u00fbr (elle g\u00e9n\u00e8re un arr\u00eat d’urgence de la machine, par exemple). Un exemple de d\u00e9faillance s\u00fbre<\/strong> pour un contacteur de puissance est lorsque, bien que la bobine du contacteur soit aliment\u00e9e, la bobine elle-m\u00eame pr\u00e9sente une d\u00e9faillance et que les contacts de puissance s’ouvrent.<\/p>\n

    Une d\u00e9faillance dangereuse<\/strong> est la d\u00e9faillance d’un \u00e9l\u00e9ment, \u00e0 l’int\u00e9rieur d’un composant qui joue un r\u00f4le dans la mise en \u0153uvre d’une fonction de s\u00e9curit\u00e9, qui emp\u00eache la fonction de s\u00e9curit\u00e9 de fonctionner lorsque cela est n\u00e9cessaire, de sorte que la machine se retrouve dans un \u00e9tat dangereux ou<\/strong> potentiellement dangereux<\/strong>. Un exemple de d\u00e9faillance dangereuse<\/strong> pour un contacteur de puissance est le cas o\u00f9, bien que la bobine du contacteur ait \u00e9t\u00e9 mise hors tension, les contacts de puissance ne s’ouvrent pas et le mouvement dangereux se poursuit.<\/p>\n

    D\u00e9faillance sans effet<\/strong> : d\u00e9faillance d’un \u00e9l\u00e9ment, \u00e0 l’int\u00e9rieur d’un composant, qui joue un r\u00f4le dans la mise en \u0153uvre d’une fonction de s\u00e9curit\u00e9, mais qui n’a pas d’effet direct sur la fonction de s\u00e9curit\u00e9 elle-m\u00eame. Un exemple de d\u00e9faillance sans effet<\/strong> pour un contacteur de puissance est le fait qu’il ne se ferme pas une fois que la fonction de s\u00e9curit\u00e9 est r\u00e9initialis\u00e9e. Cela signifie, par exemple, que la porte d’une cellule robotis\u00e9e est ferm\u00e9e, que le syst\u00e8me de s\u00e9curit\u00e9 est r\u00e9initialis\u00e9 mais que le robot ne d\u00e9marre pas. Cette d\u00e9faillance n’a aucune importance pour la fonction de s\u00e9curit\u00e9 et n’a d’influence que sur la disponibilit\u00e9 du robot, mais pas sur sa s\u00e9curit\u00e9.<\/p>\n

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    \n La fraction de d\u00e9faillaince s\u00fbre (SFF) <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n
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    La fraction de d\u00e9faillance s\u00fbre (SFF) a \u00e9t\u00e9 introduite dans la premi\u00e8re \u00e9dition de la norme IEC 61508 en tant que mesure utilis\u00e9e pour d\u00e9terminer le niveau minimum de redondance,<\/strong> ou mieux, de tol\u00e9rance aux d\u00e9faillances mat\u00e9rielles (HFT), d’un sous-syst\u00e8me de s\u00e9curit\u00e9<\/strong>.<\/p>\n

    La SFF peut \u00eatre d\u00e9finie comme une propri\u00e9t\u00e9 d’un composant de s\u00e9curit\u00e9, tel qu’un transmetteur de pression, qui est d\u00e9finie par le rapport entre les taux de d\u00e9faillance moyens des d\u00e9faillances d\u00e9tect\u00e9es s\u00fbres et dangereuses et les d\u00e9faillances s\u00fbres et dangereuses<\/strong>. Ce rapport est repr\u00e9sent\u00e9 par l’\u00e9quation suivante :<\/p>\n

    SFF= (\u03bbs+\u03bbdd) \/ (\u03bbs+\u03bbd)<\/p>\n

    Le SFF est la proportion de d\u00e9faillances \u00ab\u00a0s\u00fbres\u00a0\u00bb parmi toutes les d\u00e9faillances : il convient de noter que ni les d\u00e9faillances sans effet ni les d\u00e9faillances sans pi\u00e8ce ne sont prises en compte. Une d\u00e9faillance \u00ab\u00a0s\u00fbre\u00a0\u00bb est soit une d\u00e9faillance s\u00fbre par conception, soit une d\u00e9faillance dangereuse imm\u00e9diatement d\u00e9tect\u00e9e et corrig\u00e9e. Les normes CEI d\u00e9finissent une d\u00e9faillance s\u00fbre comme une d\u00e9faillance qui n’a pas le potentiel de mettre le SIS dans un \u00e9tat dangereux ou de non-fonctionnement. Une d\u00e9faillance dangereuse d\u00e9tect\u00e9e est une d\u00e9faillance qui peut emp\u00eacher le SIS d’effectuer un SIF sp\u00e9ci\ufb01c, mais lorsqu’elle est d\u00e9tect\u00e9e peu apr\u00e8s son apparition, par exemple par des diagnostics en ligne, la d\u00e9faillance est consid\u00e9r\u00e9e comme \u00ab\u00a0s\u00fbre\u00a0\u00bb puisque les diagnostics peuvent ramener le syst\u00e8me \u00e0 un \u00e9tat s\u00fbr. Dans certains cas, le SIS peut r\u00e9pondre automatiquement \u00e0 une d\u00e9faillance dangereuse d\u00e9tect\u00e9e comme s’il s’agissait d’une v\u00e9ritable demande, par exemple en provoquant l’arr\u00eat du processus [68].<\/p>\n

    De nombreux dispositifs de s\u00e9curit\u00e9 \u00e9lectroniques sont dot\u00e9s de diagnostics int\u00e9gr\u00e9s, de sorte que la plupart des d\u00e9faillances dangereuses deviennent des d\u00e9faillances d\u00e9tect\u00e9es comme dangereuses et qu’ils ont donc un SFF \u00e9lev\u00e9, souvent sup\u00e9rieur \u00e0 90 %. Les dispositifs de s\u00e9curit\u00e9 m\u00e9caniques, pour lesquels les diagnostics internes ne sont pas r\u00e9alisables, auront, en g\u00e9n\u00e9ral, une faible SFF.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

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    \n Exemple de SFF pour un transmetteur de pression utilis\u00e9 dans des applications de s\u00e9curit\u00e9 <\/h2>\n <\/div>\n \n
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    Voici un exemple de taux de d\u00e9faillance d’un transmetteur de pression qui peut \u00eatre utilis\u00e9 dans un syst\u00e8me de s\u00e9curit\u00e9 instrument\u00e9.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n

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    Le SFF est le suivant :
    \nSFF = (\u03bbs+\u03bbdd)\/(\u03bbs+\u03bbd ) = (184+280) \/ (184+280+36) = 464 \/ 500 = 92,8%.
    \nLe certificat du transmetteur de pression (ABB 2600T, mod\u00e8le 261) indique qu’il s’agit d’un composant de type B et qu’il poss\u00e8de une capacit\u00e9 syst\u00e9matique SC 2.
    \nPour comprendre la signification de ce qui pr\u00e9c\u00e8de, il faut tout d’abord introduire la diff\u00e9rence entre les d\u00e9faillances al\u00e9atoires et les d\u00e9faillances syst\u00e9matiques ; il faut ensuite bien comprendre la diff\u00e9rence entre un composant de type A et un composant de type B et ce que signifie la route 1H.<\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

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    \n Pannes al\u00e9atoires, pannes syst\u00e9matiques et capacit\u00e9 syst\u00e9matique <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n
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    En s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle, les d\u00e9faillances sont class\u00e9es comme\u00a0<\/span>al\u00e9atoires<\/span><\/strong>\u00a0(au niveau du mat\u00e9riel) ou\u00a0<\/span>syst\u00e9matiques<\/span><\/strong>\u00a0(au niveau du mat\u00e9riel ou du logiciel).<\/span><\/p>\n

    Les pannes al\u00e9atoires<\/span><\/strong>\u00a0sont g\u00e9n\u00e9ralement attribu\u00e9es au mat\u00e9riel. Il s’agit de pannes survenant \u00e0 un moment al\u00e9atoire, entra\u00eenant une d\u00e9gradation de la capacit\u00e9 du composant \u00e0 remplir sa fonction. Sur la base des donn\u00e9es historiques, les pannes al\u00e9atoires peuvent \u00eatre caract\u00e9ris\u00e9es par un param\u00e8tre appel\u00e9\u00a0<\/span>taux de panne\u00a0<\/span><\/strong>\u03bb<\/span><\/strong>\u00a0, que nous avons abord\u00e9 pr\u00e9c\u00e9demment. Autrement dit, une panne mat\u00e9rielle al\u00e9atoire ne concerne que l’\u00e9quipement\u00a0; les pannes al\u00e9atoires peuvent survenir soudainement, sans avertissement, ou r\u00e9sulter d’une lente d\u00e9t\u00e9rioration au fil du temps. Ces pannes peuvent \u00eatre caract\u00e9ris\u00e9es par un seul param\u00e8tre de fiabilit\u00e9, le taux de panne du composant, qui peut \u00eatre contr\u00f4l\u00e9 et g\u00e9r\u00e9 \u00e0 l’aide d’un programme d’int\u00e9grit\u00e9 des actifs.<\/span><\/p>\n

    Les d\u00e9faillances syst\u00e9matiques<\/span><\/strong>\u00a0sont essentiellement dues \u00e0 des erreurs. Elles ne peuvent \u00eatre \u00e9limin\u00e9es que par une modification de la conception, du proc\u00e9d\u00e9 de fabrication, des proc\u00e9dures op\u00e9rationnelles ou d’autres facteurs pertinents. Parmi les causes de d\u00e9faillances syst\u00e9matiques, on peut citer les erreurs humaines lors de la conception, de la fabrication, de l’installation et de l’exploitation du mat\u00e9riel. Si,\u00a0<\/span>par exemple<\/span><\/strong>\u00a0, un produit est utilis\u00e9 dans un environnement inappropri\u00e9, le risque de d\u00e9faillances syst\u00e9matiques existe. Une d\u00e9faillance syst\u00e9matique implique \u00e0 la fois l’\u00e9quipement et une erreur humaine\u00a0; les d\u00e9faillances syst\u00e9matiques existent d\u00e8s le moment o\u00f9 l’erreur humaine est commise et persistent jusqu’\u00e0 sa correction. Une d\u00e9faillance syst\u00e9matique peut \u00eatre \u00e9limin\u00e9e apr\u00e8s avoir \u00e9t\u00e9 d\u00e9tect\u00e9e, contrairement aux d\u00e9faillances mat\u00e9rielles al\u00e9atoires.<\/span><\/p>\n

    Les pannes sont donc soit al\u00e9atoires, soit syst\u00e9matiques\u00a0; ces derni\u00e8res peuvent \u00eatre cach\u00e9es dans le mat\u00e9riel ou dans le logiciel. Une\u00a0<\/span>diff\u00e9rence majeure entre les pannes mat\u00e9rielles al\u00e9atoires et les pannes syst\u00e9matiques<\/span><\/strong>\u00a0r\u00e9side dans le fait que les taux de pannes syst\u00e8me (ou autres mesures appropri\u00e9es) r\u00e9sultant de pannes mat\u00e9rielles al\u00e9atoires peuvent \u00eatre pr\u00e9dits avec une pr\u00e9cision raisonnable, tandis que les pannes syst\u00e9matiques, de par leur nature m\u00eame, ne peuvent pas \u00eatre pr\u00e9dites avec pr\u00e9cision. Cela signifie que les taux de pannes syst\u00e8me r\u00e9sultant de pannes mat\u00e9rielles al\u00e9atoires peuvent \u00eatre quantifi\u00e9s avec une pr\u00e9cision raisonnable, tandis que ceux r\u00e9sultant de pannes syst\u00e9matiques ne peuvent \u00eatre quantifi\u00e9s statistiquement, car les \u00e9v\u00e9nements qui les ont provoqu\u00e9es sont difficiles \u00e0 pr\u00e9dire. En d’autres termes, les param\u00e8tres de fiabilit\u00e9 des pannes mat\u00e9rielles al\u00e9atoires peuvent \u00eatre estim\u00e9s \u00e0 partir des retours d’exp\u00e9rience sur le terrain, alors qu’il est tr\u00e8s difficile de faire de m\u00eame pour les pannes syst\u00e9matiques\u00a0: une approche qualitative est privil\u00e9gi\u00e9e pour les pannes syst\u00e9matiques.<\/span><\/p>\n

    Les d\u00e9faillances al\u00e9atoires sont prises en compte dans le calcul des diff\u00e9rents types de taux de d\u00e9faillance. Pour les d\u00e9faillances syst\u00e9matiques, le concept de\u00a0<\/span>capacit\u00e9 syst\u00e9matique<\/span><\/strong>\u00a0d’un composant est utilis\u00e9.<\/span><\/p>\n

    La capacit\u00e9 syst\u00e9matique d’un composant est une mesure (exprim\u00e9e sur une \u00e9chelle de\u00a0<\/span>SC 1 \u00e0 SC 4<\/span><\/strong>\u00a0) de la confiance que l’int\u00e9grit\u00e9 de s\u00e9curit\u00e9 syst\u00e9matique du composant r\u00e9pond aux exigences du niveau SIL sp\u00e9cifi\u00e9. En d’autres termes, un composant avec une capacit\u00e9 syst\u00e9matique SC 2 ne peut \u00eatre utilis\u00e9 que dans des syst\u00e8mes instrument\u00e9s de s\u00e9curit\u00e9 dont la fiabilit\u00e9 atteint jusqu’\u00e0 SIL 2, quel que soit le niveau de redondance utilis\u00e9 pour ce composant. Cela signifie que si un composant a un SC 1 (SIL 1), m\u00eame en utilisant deux composants en parall\u00e8le, le niveau de fiabilit\u00e9 maximal que ce sous-syst\u00e8me peut atteindre est SIL 1.<\/span><\/p>\n

    Afin d’\u00e9valuer la capacit\u00e9 syst\u00e9matique d’un composant, le laboratoire qui l’\u00e9value examine, par exemple, la qualit\u00e9 de son processus de d\u00e9veloppement ainsi que celle de son processus de production.<\/span><\/p>\n

    Le concept de capacit\u00e9 syst\u00e9matique a \u00e9t\u00e9 introduit dans la deuxi\u00e8me \u00e9dition de la norme CEI 61508. Comme ce terme n’\u00e9tait pas pr\u00e9sent dans la premi\u00e8re \u00e9dition, des termes tels que \u00ab\u00a0composant\u00a0<\/span>capable SIL n<\/span><\/strong>\u00a0\u00bb ou \u00ab\u00a0composant\u00a0<\/span>conforme SIL n<\/span><\/strong>\u00a0\u00bb sont apparus dans les fiches techniques et les documents, ce qui a cr\u00e9\u00e9 une confusion\u00a0! Cette confusion provient du fait que, gr\u00e2ce au concept d’int\u00e9grit\u00e9 syst\u00e9matique de la s\u00e9curit\u00e9,\u00a0<\/span>il est possible d’attribuer un niveau SIL \u00e0 un composant<\/span><\/strong>\u00a0. Ceci est inhabituel, car le\u00a0<\/span>concept SIL appartient \u00e0 une fonction de s\u00e9curit\u00e9 et non \u00e0 un composant.<\/span><\/strong><\/p>\n

    La nouvelle \u00e9dition de la s\u00e9rie CEI 61508 a clarifi\u00e9 ce point\u00a0: un dispositif pr\u00e9sentant une capacit\u00e9 syst\u00e9matique de SIL\u00a02 (SC\u00a02), par exemple, satisfait \u00e0 l\u2019\u00a0<\/span>int\u00e9grit\u00e9 de s\u00e9curit\u00e9 syst\u00e9matique<\/span><\/strong>\u00a0de SIL\u00a02 lorsqu\u2019il est utilis\u00e9 conform\u00e9ment aux instructions de son fabricant. Cela signifie que, m\u00eame si les taux de d\u00e9faillance et le SFF permettent au composant d\u2019atteindre SIL\u00a03, il ne peut \u00eatre utilis\u00e9 que dans un sous-syst\u00e8me de s\u00e9curit\u00e9 SIL\u00a02. Cela signifie \u00e9galement que, m\u00eame s\u2019il est utilis\u00e9 en redondance avec un autre composant et que, ensemble, leur sous-syst\u00e8me peut atteindre SIL\u00a03, le syst\u00e8me de s\u00e9curit\u00e9 ne peut atteindre que SIL\u00a02.<\/span><\/p>\n

    Encore une fois, l’int\u00e9grit\u00e9 de s\u00e9curit\u00e9 d\u00e9signe \u00e0 la fois\u00a0<\/span>l’int\u00e9grit\u00e9 mat\u00e9rielle<\/span><\/strong>\u00a0et\u00a0<\/span>l’int\u00e9grit\u00e9 syst\u00e9matique de la s\u00e9curit\u00e9<\/span><\/strong>\u00a0. Les d\u00e9faillances\u00a0<\/span>syst\u00e9matiques<\/span><\/strong>\u00a0(mat\u00e9rielles ou logicielles), et par cons\u00e9quent l’int\u00e9grit\u00e9 syst\u00e9matique de la s\u00e9curit\u00e9, ne peuvent \u00eatre quantifi\u00e9es. En revanche, les d\u00e9faillances mat\u00e9rielles\u00a0<\/span>al\u00e9atoires<\/span><\/strong>\u00a0le peuvent g\u00e9n\u00e9ralement.<\/span><\/p>\n

    Un syst\u00e8me de contr\u00f4le de s\u00e9curit\u00e9 n\u00e9cessite un certain niveau d\u2019int\u00e9grit\u00e9 de s\u00e9curit\u00e9 pour \u00eatre \u00ab fiable \u00bb ou, en d\u2019autres termes, pour \u00eatre \u00ab immunis\u00e9 \u00bb contre\u00a0<\/span>les d\u00e9faillances syst\u00e9matiques et al\u00e9atoires<\/span><\/strong>\u00a0.<\/span><\/p>\n

    Les d\u00e9faillances al\u00e9atoires mat\u00e9rielles<\/span><\/strong>\u00a0sont quantifiables et prises en compte gr\u00e2ce aux valeurs fournies par le fabricant du composant, telles que les taux de d\u00e9faillance, le MTTF\u00a0<\/span>D<\/span><\/sub>\u00a0et le PFH\u00a0<\/span>D.<\/span><\/sub>\u00a0La question est de savoir comment g\u00e9rer les d\u00e9faillances syst\u00e9matiques. Cela se fait en garantissant un certain niveau de\u00a0<\/span>capacit\u00e9 syst\u00e9matique<\/span><\/strong>\u00a0, selon la terminologie utilis\u00e9e dans la norme CEI 61508. La capacit\u00e9 syst\u00e9matique s’applique \u00e0 un composant de s\u00e9curit\u00e9 en ce qui concerne la confiance que l’\u00a0<\/span>int\u00e9grit\u00e9 de s\u00e9curit\u00e9 syst\u00e9matique<\/span><\/strong>\u00a0r\u00e9pond aux exigences du\u00a0<\/span>niveau d’int\u00e9grit\u00e9 de s\u00e9curit\u00e9 (SIL)<\/span><\/strong>\u00a0sp\u00e9cifi\u00e9 .<\/span><\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

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    \n Composants de type A et de type B <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n
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    \n
    \n

    Les composants utilis\u00e9s dans une fonction de s\u00e9curit\u00e9 peuvent \u00eatre class\u00e9s comme de type A ou de type B.<\/span><\/p>\n

    Selon la norme CEI 61508-2, un composant\u00a0<\/span>peut \u00eatre consid\u00e9r\u00e9 comme de type A<\/span><\/strong>\u00a0si<\/span><\/p>\n

      \n
    • les modes de d\u00e9faillance de tous les composants constitutifs sont bien d\u00e9finis\u00a0; et<\/span><\/li>\n
    • le comportement de l’\u00e9l\u00e9ment dans des conditions de d\u00e9faut\u00a0<\/span>peut \u00eatre compl\u00e8tement d\u00e9termin\u00e9<\/span><\/strong>\u00a0; et<\/span><\/li>\n
    • il existe suffisamment de donn\u00e9es fiables sur les d\u00e9faillances pour d\u00e9montrer que les taux de d\u00e9faillance revendiqu\u00e9s pour les d\u00e9faillances dangereuses d\u00e9tect\u00e9es et non d\u00e9tect\u00e9es sont respect\u00e9s.<\/span><\/li>\n<\/ul>\n

      Les dispositifs de verrouillage \u00e9lectrom\u00e9caniques sont des exemples de composants de type A.<\/span><\/p>\n

      Un composant peut \u00eatre consid\u00e9r\u00e9 comme\u00a0<\/span>de type B<\/span><\/strong>\u00a0si<\/span><\/p>\n

        \n
      • le mode de d\u00e9faillance d’au moins un composant constitutif n’est pas bien d\u00e9fini ; ou<\/span><\/li>\n
      • le comportement de l’\u00e9l\u00e9ment dans des conditions de d\u00e9faut\u00a0<\/span>ne peut pas \u00eatre compl\u00e8tement d\u00e9termin\u00e9<\/span><\/strong>\u00a0; ou<\/span><\/li>\n
      • il n\u2019existe pas suffisamment de donn\u00e9es fiables sur les d\u00e9faillances pour \u00e9tayer les affirmations concernant les taux de d\u00e9faillance des d\u00e9faillances dangereuses d\u00e9tect\u00e9es et non d\u00e9tect\u00e9es.<\/span><\/li>\n<\/ul>\n

        Un transmetteur 4-20 mA est normalement un composant de type B.<\/span><\/p>\n<\/div>\n<\/div>\n

        <\/div>\n<\/div>\n<\/section>\n
        \n
        \n
        \n
        <\/div>\n<\/div>\n<\/div>\n<\/section>\n<\/div> <\/div>\n \n \n
        <\/div>\n \n\n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n
        \n\n \n
        \n \n
        \n \n \n

        \n Route 1H <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n
        \n \n
        \n

        Les composants utilis\u00e9s dans une fonction de s\u00e9curit\u00e9 peuvent \u00eatre class\u00e9s comme de type A ou de type B.<\/span><\/p>\n

        Selon la norme CEI 61508-2, un composant\u00a0<\/span>peut \u00eatre consid\u00e9r\u00e9 comme de type A<\/span><\/strong>\u00a0si<\/span><\/p>\n

          \n
        • les modes de d\u00e9faillance de tous les composants constitutifs sont bien d\u00e9finis\u00a0; et<\/span><\/li>\n
        • le comportement de l’\u00e9l\u00e9ment dans des conditions de d\u00e9faut\u00a0<\/span>peut \u00eatre compl\u00e8tement d\u00e9termin\u00e9<\/span><\/strong>\u00a0; et<\/span><\/li>\n
        • il existe suffisamment de donn\u00e9es fiables sur les d\u00e9faillances pour d\u00e9montrer que les taux de d\u00e9faillance revendiqu\u00e9s pour les d\u00e9faillances dangereuses d\u00e9tect\u00e9es et non d\u00e9tect\u00e9es sont respect\u00e9s.<\/span><\/li>\n<\/ul>\n

          Les dispositifs de verrouillage \u00e9lectrom\u00e9caniques sont des exemples de composants de type A.<\/span><\/p>\n

          Un composant peut \u00eatre consid\u00e9r\u00e9 comme\u00a0<\/span>de type B<\/span><\/strong>\u00a0si<\/span><\/p>\n

            \n
          • le mode de d\u00e9faillance d’au moins un composant constitutif n’est pas bien d\u00e9fini ; ou<\/span><\/li>\n
          • le comportement de l’\u00e9l\u00e9ment dans des conditions de d\u00e9faut\u00a0<\/span>ne peut pas \u00eatre compl\u00e8tement d\u00e9termin\u00e9<\/span><\/strong>\u00a0; ou<\/span><\/li>\n
          • il n\u2019existe pas suffisamment de donn\u00e9es fiables sur les d\u00e9faillances pour \u00e9tayer les affirmations concernant les taux de d\u00e9faillance des d\u00e9faillances dangereuses d\u00e9tect\u00e9es et non d\u00e9tect\u00e9es.<\/span><\/li>\n<\/ul>\n

            Un transmetteur 4-20 mA est normalement un composant de type B.<\/span><\/p>\n

            Route 1\u00a0<\/span>H<\/span><\/sub><\/u><\/strong><\/p>\n

            Historiquement, c’\u00e9tait la seule fa\u00e7on de d\u00e9terminer le niveau de s\u00e9curit\u00e9 (SIL) maximal pouvant \u00eatre revendiqu\u00e9 par une fonction de s\u00e9curit\u00e9. Voici la proc\u00e9dure \u00e0 suivre conform\u00e9ment \u00e0 la norme CEI 61508-2, \u00a7 7.4.4.2.<\/span><\/p>\n

              \n
            • Diviser le syst\u00e8me li\u00e9 \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 en\u00a0<\/span>sous-syst\u00e8mes<\/span><\/strong>\u00a0;<\/span><\/li>\n
            • Pour chaque sous-syst\u00e8me,<\/span><\/strong>\u00a0calculer le taux de d\u00e9faillance s\u00fbr pour tous les \u00e9l\u00e9ments du sous-syst\u00e8me s\u00e9par\u00e9ment. En cas de configurations d’\u00e9l\u00e9ments redondants, le taux de d\u00e9faillance s\u00fbr peut \u00eatre calcul\u00e9 en tenant compte des diagnostics suppl\u00e9mentaires \u00e9ventuellement disponibles (par exemple, par comparaison des \u00e9l\u00e9ments redondants)\u00a0;<\/span><\/li>\n
            • Pour chaque \u00e9l\u00e9ment,<\/span><\/strong>\u00a0utilisez la fraction de d\u00e9faillance s\u00fbre obtenue et la tol\u00e9rance aux pannes mat\u00e9rielles de 0 pour d\u00e9terminer le niveau d’int\u00e9grit\u00e9 de s\u00e9curit\u00e9 maximal qui peut \u00eatre revendiqu\u00e9 \u00e0 partir de la colonne 2 du tableau 2 de la norme CEI 61502-2 pour\u00a0<\/span>les \u00e9l\u00e9ments de type A ;<\/span><\/strong>\u00a0dans le cas\u00a0<\/span>des \u00e9l\u00e9ments de type B<\/span><\/strong>\u00a0, le tableau 3 de la norme CEI 61502-2 doit \u00eatre utilis\u00e9 ;<\/span><\/li>\n
            • Le niveau d’int\u00e9grit\u00e9 de s\u00e9curit\u00e9 maximal qui peut \u00eatre revendiqu\u00e9 pour un syst\u00e8me E\/E\/PE li\u00e9 \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9 doit \u00eatre d\u00e9termin\u00e9 par le sous-syst\u00e8me qui a atteint\u00a0<\/span>le niveau d’int\u00e9grit\u00e9 de s\u00e9curit\u00e9 le plus bas<\/span><\/strong>\u00a0.<\/span><\/li>\n<\/ul>\n

              Pour une Route 1\u00a0<\/span>H<\/span><\/sub>\u00a0, chaque composant de s\u00e9curit\u00e9 doit avoir\u00a0<\/span>tous les taux de d\u00e9faillance provenant d’une analyse FMEDA<\/span><\/strong>\u00a0.<\/span><\/p>\n

               <\/p>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
              Fraction de d\u00e9faillance s\u00fbre d’un \u00e9l\u00e9ment<\/span><\/strong><\/td>\nTol\u00e9rance aux pannes mat\u00e9rielles<\/span><\/strong><\/td>\n<\/tr>\n
              0<\/span><\/strong><\/td>\n1<\/span><\/strong><\/td>\n2<\/span><\/strong><\/td>\n<\/tr>\n
              SFF < 60 %<\/span><\/td>\nSIL 1<\/span><\/td>\nSIL 2<\/span><\/td>\nSIL 3<\/span><\/td>\n<\/tr>\n
              60 % \u2264 SFF < 90 %<\/span><\/td>\nSIL 2<\/span><\/td>\nSIL 3<\/span><\/td>\nSIL 4<\/span><\/td>\n<\/tr>\n
              90 % \u2264 SFF < 99 %<\/span><\/td>\nSIL 3<\/span><\/td>\nSIL 4<\/span><\/td>\nSIL 4<\/span><\/td>\n<\/tr>\n
              SFF \u2265 99 %<\/span><\/td>\nSIL 3<\/span><\/td>\nSIL 4<\/span><\/td>\nSIL 4<\/span><\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

              Tableau 2 de la norme CEI 61508-2\u00a0: Niveau d’int\u00e9grit\u00e9 de s\u00e9curit\u00e9 maximal admissible pour une fonction de s\u00e9curit\u00e9 ex\u00e9cut\u00e9e par un \u00e9l\u00e9ment ou un sous-syst\u00e8me de type A relatif \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9<\/span><\/p>\n

               <\/p>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
              Fraction de d\u00e9faillance s\u00fbre d’un \u00e9l\u00e9ment<\/span><\/strong><\/td>\nTol\u00e9rance aux pannes mat\u00e9rielles<\/span><\/strong><\/td>\n<\/tr>\n
              0<\/span><\/strong><\/td>\n1<\/span><\/strong><\/td>\n2<\/span><\/strong><\/td>\n<\/tr>\n
              SFF < 60 %<\/span><\/td>\nNon autoris\u00e9<\/span><\/td>\nSIL 1<\/span><\/td>\nSIL 2<\/span><\/td>\n<\/tr>\n
              60 % \u2264 SFF < 90 %<\/span><\/td>\nSIL 1<\/span><\/td>\nSIL 2<\/span><\/td>\nSIL 3<\/span><\/td>\n<\/tr>\n
              90 % \u2264 SFF < 99 %<\/span><\/td>\nSIL 2<\/span><\/td>\nSIL 3<\/span><\/td>\nSIL 4<\/span><\/td>\n<\/tr>\n
              SFF \u2265 99 %<\/span><\/td>\nSIL 3<\/span><\/td>\nSIL 4<\/span><\/td>\nSIL 4<\/span><\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

              Tableau 3 de la norme CEI 61508-2 : Niveau d’int\u00e9grit\u00e9 de s\u00e9curit\u00e9 maximal admissible pour une fonction de s\u00e9curit\u00e9 ex\u00e9cut\u00e9e par un \u00e9l\u00e9ment ou un sous-syst\u00e8me de type B li\u00e9 \u00e0 la s\u00e9curit\u00e9.<\/span><\/p>\n

              Le concept de tol\u00e9rance aux pannes mat\u00e9rielles (HFT) est utilis\u00e9 dans la s\u00e9rie CEI 61508 pour indiquer la capacit\u00e9 d’un sous-syst\u00e8me mat\u00e9riel \u00e0 continuer d’ex\u00e9cuter une fonction requise, en pr\u00e9sence de pannes ou d’erreurs. La HFT est exprim\u00e9e sous forme de chiffre. HFT = 0 signifie qu’en cas de panne, la fonction (par exemple, une mesure de pression) est perdue. HFT = 1 signifie que si une voie tombe en panne, une autre voie est capable d’ex\u00e9cuter la m\u00eame fonction\u00a0: autrement dit, le sous-syst\u00e8me peut tol\u00e9rer une panne et continuer \u00e0 fonctionner. Un sous-syst\u00e8me de trois voies, dont la valeur est 2oo3, fonctionne tant que deux de ses trois voies fonctionnent. Cela signifie que le sous-syst\u00e8me peut tol\u00e9rer une panne de voie et continuer \u00e0 fonctionner normalement. La tol\u00e9rance aux pannes mat\u00e9rielles du groupe 2oo3 est donc HFT = 1. La figure 1 illustre un sous-syst\u00e8me d’entr\u00e9e avec HFT = 1\u00a0: I1 et I2 pourraient \u00eatre deux transmetteurs de pression identiques.<\/span><\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

              <\/div>\n \n\n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n
              \n\n \n
              \n \n
              \n \n <\/div>\n <\/div>\n \n \n \r\n\r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n \r\n <\/picture>\r\n\r\n \r\n\r\n \r\n \r\n <\/div>\n \n
              \n \n
              \n

              Figure 1\u00a0: Sous-fonction de s\u00e9curit\u00e9 d’entr\u00e9e HFT=1<\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

              <\/div>\n \n\n <\/div>\n <\/section>\n\n \n\n\n\n\n \n \n \n\n\n\n\n \n \n \n
              \n\n \n
              \n \n
              \n \n \n

              \n Conclusions <\/h2>\n <\/div>\n <\/div>\n \n \n
              \n \n
              \n

              Dans cet article, nous avons expliqu\u00e9 la m\u00e9thodologie utilis\u00e9e pour les composants des syst\u00e8mes instrument\u00e9s de s\u00e9curit\u00e9 en mode faible demande.<\/span><\/p>\n

               <\/p>\n

              Un composant\u00a0<\/span>peut avoir un pourcentage de taux de d\u00e9faillance tr\u00e8s faible<\/span><\/strong>\u00a0, mais cela ne signifie pas qu’il peut atteindre un niveau de fiabilit\u00e9 \u00e9lev\u00e9 lorsqu’il est install\u00e9 dans un syst\u00e8me de s\u00e9curit\u00e9.<\/span><\/p>\n

               <\/p>\n

              La valeur des d\u00e9faillances al\u00e9atoires n’est qu’un aspect \u00e0 prendre en compte. L’autre est le risque que le composant (un transmetteur de pression dans cet article) soit sujet \u00e0\u00a0<\/span>des d\u00e9faillances syst\u00e9matiques<\/span><\/strong>\u00a0en raison d’une conception, d’une ing\u00e9nierie et d’une production inad\u00e9quates, ou d’une maintenance inad\u00e9quate. Le niveau de\u00a0<\/span>capacit\u00e9 syst\u00e9matique<\/span><\/strong>\u00a0d’un composant est formalis\u00e9 en niveaux allant de SC 1 \u00e0 SC 4.<\/span><\/p>\n

               <\/p>\n

              Nous avons discut\u00e9 de ce qu’est un composant\u00a0<\/span>de type A ou de type B<\/span><\/strong>\u00a0et de la mani\u00e8re dont cela limite le SIL maximum qu’un sous-syst\u00e8me contenant ce composant peut atteindre, en examinant ses d\u00e9faillances al\u00e9atoires et son niveau SFF.<\/span><\/p>\n

               <\/p>\n

              Dans tous les cas, si un composant a une\u00a0<\/span>capacit\u00e9 syst\u00e9matique<\/span><\/strong>\u00a0de SC 2, le niveau SIL maximal qui peut \u00eatre atteint par son sous-syst\u00e8me est SIL 2, quel que soit le nombre d’entre eux que nous connectons en parall\u00e8le ou la valeur\u00a0<\/span>moyenne<\/span><\/sub>\u00a0PFD atteinte par le sous-syst\u00e8me.<\/span><\/p>\n<\/div> <\/div>\n \n \n

              <\/div>\n \n\n <\/div>\n <\/section>\n\n \n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

              Nous rappelons qu\u2019il existe quatre types d\u00e9 defaillances: d\u00e9faillances s\u00fbres; d\u00e9faillances dangereuses; d\u00e9faillances sans effet et d\u00e9faillances de pi\u00e8ce <\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":35173,"parent":49611,"menu_order":1,"template":"","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"class_list":["post-50191","pubblicazione","type-pubblicazione","status-publish","has-post-thumbnail","hentry"],"acf":[],"yoast_head":"\nP2: La fraction de d\u00e9faillance s\u00fbre (SFF) : qu'est-ce que c'est et comment l'utiliser. - Gt-Engineering<\/title>\n<meta name=\"robots\" content=\"index, follow, max-snippet:-1, max-image-preview:large, max-video-preview:-1\" \/>\n<link rel=\"canonical\" href=\"https:\/\/www.gt-engineering.it\/fr\/publications\/approfondissements-articles-tuttomisure\/la-fraction-de-defaillance-sure-sff-quest-ce-que-cest-et-comment-lutiliser\/\" \/>\n<meta property=\"og:locale\" content=\"fr_FR\" \/>\n<meta property=\"og:type\" content=\"article\" \/>\n<meta property=\"og:title\" content=\"P2: La fraction de d\u00e9faillance s\u00fbre (SFF) : qu'est-ce que c'est et comment l'utiliser. - 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